硬盤的測試結(jié)果與硬盤性能參數(shù)及硬盤的使用程度有很大關(guān)系。 如硬盤轉(zhuǎn)速,硬盤盤片數(shù),平均尋道時間,硬盤緩存等等。一般來說,硬盤的傳輸速度曲線越平滑則硬盤的平均傳輸速度越高越穩(wěn)定,平均傳輸速度越大硬盤性能越好。(對比數(shù)值可參考 http://www.hdtune.cn/)而CPU占用率大小的數(shù)值也是直接影響硬盤的實(shí)際應(yīng)用性能的重要參數(shù),在數(shù)據(jù)交換過程中,過高的CPU占用率可能會導(dǎo)致整機(jī)性能嚴(yán)重下降甚至停止響應(yīng)從而出現(xiàn)系統(tǒng)的不穩(wěn)定。
對于使用了一段時間的老硬盤來說,反復(fù)的讀寫使得存儲的數(shù)據(jù)變得不連續(xù),這樣也會導(dǎo)致硬盤在尋找數(shù)據(jù)時的延遲。
系統(tǒng)自帶的磁盤碎片整理程序的C盤碎片分析結(jié)果
此時,平均尋道時間越小則數(shù)據(jù)讀取速度越快。硬盤的平均讀取速度也會越高,硬盤性能就會越好。當(dāng)然,目前采用相同盤片數(shù)的硬盤其尋道時間差別不大。因此,從另一個角度來說,購買盤片少的硬盤及保障硬盤數(shù)據(jù)的連續(xù)性也可以在一定程度上提升硬盤性能。
當(dāng)前硬盤的信息
硬盤的健康狀況
很直觀的通過數(shù)據(jù)即可自動評判硬盤的健康狀況。其中,硬盤加電次數(shù)可以粗略的估算硬盤啟動的次數(shù),一塊新的硬盤,加電次數(shù)是不應(yīng)該超過10的。
對磁盤壞道進(jìn)行掃描
HD Tune通過直觀的畫面,使我們非常簡單方便的對硬盤進(jìn)行全方位檢測。令我們更加了解硬盤的實(shí)際性能及工作狀態(tài)。非常適合菜鳥朋友們使用。